Системы управления полным жизненным циклом высокотехнологичной продукции в машиностроении: новые источники роста. Материалы III всероссийской научно-практической конференции

СУБДИФРАКЦИОННЫЙ МЕТОД ОБНАРУЖЕНИЯ И ИЗМЕРЕНИЯ РАЗМЕРОВ МИКРОЧАСТИЦ

Глава в книге

Арефьев Алексей Павлович, Толстогузов Виктор Леонидович

Страницы: 45-50

Источники:

1. Frohn J.T., Knapp H.F., Stemmer A. True optical resolution beyond the Rayleigh limit achieved by standing wave illumination // Proceedings of the National Academy of Sciences. – 2000. – Т. 97. – № 13. – P. 7232–7236.
2. Gustafsson M.G.L. (et al.) Three-dimensional resolution doubling in wide-field fluorescence microscopy by structured illumination // Biophysical journal. – 2008. – Vol. 94. – № 12. – P. 4957–4970.
3. Schermelleh L. (et al.) Subdiffraction multicolor imaging of the nuclear periphery with 3D structured illumination microscopy // Science. – 2008. – Vol. 320. – № 5881. – P. 1332–1336.
4. Albrecht B. (et al.) Spatially modulated illumination microscopy: online visualization of intensity distribution and prediction of nanometer precision of axial distance measurements by computer simulations // Journal of biomedical optics. – 2001. – Vol. 6. – № 3. – P. 292–299.
5. Борн М., Вольф Э. Основы оптики. – Москва: Наука, 1970.
6. Креопалова Г.В., Лазарева Н.Л., Пуряев Д.Т. Оптические измерения. – Москва: Машиностроение, 1987. – 264 с.
7. Андреев А.Н., Гаврилов Е.В., Ишанин Г.Г. [и др.] Оптические измерения. – Москва: Университетская книга; Логос, 2008.
8. Тихонов А.Н., Арсенин В.Я. Методы решения некорректных задач. – Москва: Наука, 1979. – 283 с.

Вернуться к содержанию